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반도체 테스트소켓 특허권 침해 조사, 비침해 판정

[산업일보]
산업통상자원부 무역위원회는 23일 제380차 회의를 무역센터(서울)에서 열고, 반도체 테스트 소켓 특허권 침해 조사건에 대한 불공정무역행위 여부를 판정한 결과, '비침해' 판정을 내렸다.

무역위에 따르면, 이번 조사건은 국내 업체 ㈜아이에스시가 지난 2017년 11월9일 무역위원회에 조사를 신청, 같은 달 27일에 개시된 것으로, 약 9개월간 진행됐다.

무역위는 조사를 진행하면서 각 당사자로부터 총 26차례의 답변서 및 의견서를 접수했으며, 2회의 현지 조사, 조사대상물품에 대한 전문기관의 분석 및 감정, 기술설명회 등의 절차를 수행했다.

이번 조사건의 주요 쟁점은 국내업체 A사가 수출하는 반도체 테스트 소켓(조사대상물품)이 ㈜아이에스시 특허의 권리 범위에 포함되는지 여부다.

반도체 테스트 소켓은 제조된 반도체의 전기적 성능 검사를 위해 사용되는 소모품으로, 반도체 칩과 고가의 검사 장비를 전기적으로 연결하는 도전부 및 도전부를 형성하는 도전성 입자가 주요 구성이다.

두 당사자는 조사대상물품의 도전성 입자의 형상 및 도전성 입자들이 도전부에 배치된 형태가 ㈜아이에스시 특허의 청구 범위에 기재된 구성에 해당하는지 여부에 대해 대립각을 세워왔다.

무역위는 A사의 반도체 테스트 소켓은 ㈜아이에스시가 보유한 특허와 비교해 도전성 입자가 도전부에 배치된 형태가 상이하다고 판단, A사의 행위가 불공정무역행위에 해당하지 않는다고 판정했다.

이에 따라 A사는 반도체 테스트 소켓의 제조 및 수출 행위를 계속 수행할 수 있게 됐다.

무역위원회는 무역위원회의 조사 제도를 활용하면 기업의 수입 및 수출 행위가 특허·상표·디자인권 등 지식재산권을 침해하는 ‘불공정무역행위’에 해당하는지 여부를 신속하고 정확하게 확인할 수 있다’며 ‘앞으로 더욱 많은 기업들이 무역위원회의 불공정무역행위 조사제도를 이용해 줄 것을 당부했다.
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