TI, 업계 최고 성능 및 기능을 결합한 32bit ADC설계

[산업일보]
TI는 높은 분해능과 낮은 잡음, 오류 검출 기능을 결합해 디바이스 평가 및 선택 시 발생하는 일반적인 성능과 기능 저하를 방지하는 32bit 델타 시그마 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 출시한다고 밝혔다.

이 새로운 ADS1262 및 ADS1263은 높은 통합성을 제공하고 센서가 내장돼 있으며, 시스템 비용을 높이고 잡음 및 드리프트 성능 저하의 요인이 되는 외부 부품을 필요로 하지 않다.

높은 분해능의 ADC를 필요로 했던 시스템 설계자들은 다수의 통합 기능은 물론 낮은 잡음 및 낮은 오프셋 드리프트와 같은 다른 기대 사양들을 포기해야 했다. ADS1262와 ADS1263은 이러한 기대 사양들을 포기하지 않고도 32bit 분해능과 함께 높은 통합과 오류 검출 기능, 빠른 데이터 속도 및 넓은 온도 범위를 제공해, 프로그래머블 로직 컨트롤러(PLC), 산업용 자동화 장비 및 센서 측정 애플리케이션의 성능을 극대화할 수 있게 도와준다.

이번 TI 신제품의 특징은 정확한 소신호 측정을 들 수 있다. 32bit의 높은 분해능과 2.5SPS에서 7nVRMS의 낮은 잡음으로 가장 작은 신호 측정이 가능하며, 이는 일반적인 풀스케일 신호가 10mV 이하인 브리지 애플리케이션에 반드시 필요하다. 경쟁 솔루션보다 80% 더 낮은 오프셋 오류 드리프트는 전체 온도 범위에서 측정 안정성을 보장한다.

적은 부품 수로 시스템 비용과 보드 공간 절감, 설계 시간 단축도 이번 TI 신제품의 장점이다. ADS1262는 프로그래머블 게인 증폭기(PGA), 2.5V 레퍼런스, 오실레이터, 레벨 시프터, 온도 센서, IDAC(dual-excitation current source) 및 8개의 범용 입/출력(GPIO) 핀을 통합했다. ADS1263은 보조 24bit 델타 시그마 ADC를 추가해 메인 채널에 대한 병렬 변환, 센서 온도 보상 또는 센서 진단을 필요로 하는 시스템에 적합하다.

모니터링 및 진단 기능도 통합됐다. 내부 시그널 체인 모니터링, 데이터 오류 검출, 센서 번아웃 검출 및 디지털-아날로그 컨버터(DAC) 테스트 기능이 통합돼 신뢰도 높은 시스템에 필요한 내부 및 외부 오류 검출과 진단 기능을 제공한다.

이 외에도 빠른 데이터 속도와 혹독한 산업 환경의 지원도 이번 제품의 장점이다.