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[국제 연구·실험 및 첨단분석장비전] 전자파 반사 원리로 관찰하는 현미경
김예리 기자|yrkim@kidd.co.kr
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[국제 연구·실험 및 첨단분석장비전] 전자파 반사 원리로 관찰하는 현미경

영인과학, KOREA LAB 2022서 주사전자현미경 선보여

기사입력 2022-06-17 16:37:27
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[국제 연구·실험 및 첨단분석장비전] 전자파 반사 원리로 관찰하는 현미경
영인과학 박도정 대리

[국제 연구·실험 및 첨단분석장비전] 전자파 반사 원리로 관찰하는 현미경


[산업일보]
17일 국제 연구·실험 및 첨단분석장비전(KOREA LAB 2022)에 참가한 정밀·과학장비 기업 영인과학이 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope, SEM)을 전시했다.

부스 담당자인 영인과학 박도정 대리는 "관찰 시료를 코팅 처리한 뒤 전자빔을 표면에 주사해, 반사되는 전자를 검출해 시료를 측정하는 원리다"라며 "반도체, 고분자, 화장품 등의 시료나 제품 등의 구조를 살펴보는 데 활용한다"라고 했다.

일반 현미경보다 배율이 높은 장비로, 10만 배율까지 관찰할 수 있다는 게 그의 설명이다.
영인과학 GO
국내는 물론 해외 글로벌 기업들의 동향을 신속 정확하게 보도하겠습니다.


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