한국NI, 자동화 테스트 컨퍼런스 개최 한국내쇼날인스트루먼트는 6월 1일 서울 코엑스에서 “최신 반도체 개발 및 양산을 위한 통합 테스트 시스템 개발”을 주제로 반도체 개발 및 테스트 엔지니어를 위한 컨퍼런스를 개최한다. ‘PXI 자동화 테스트 컨퍼런스’는 지난 40년 간 자동화 테스트 분야의 선두 기업으로 자리매김 해 온 내쇼날인스트루먼트가 해당 분야의 최신 기술 트렌드를 제시하고 고객과 상호 네크워킹하기 위한 취지로 준비하여 앞으로 매년 개최될 예정이다. 올 해 첫 해를 맞는 2011년 컨퍼런스에서는 반도체 기능의 다양화로 인한 테스트 항목 및 비용 절감 문제 등 반도체 개발 및 테스트 엔지니어가 당면한 현안을 짚어보고, 반도체 개발 및 양산 단계에서 진행해야 할 다양한 테스트 항목과 반도체 통합 자동화 테스트를 위한 PXI기반의 자동화 테스트 시스템 개발 기법을 소개한다. 특히, 지난 4월 내쇼날인스트루먼트와 텍트로닉스가 공동 개발한 PXI 디지타이저 신제품을 소개하고 현장에서 데모를 통해 확인해 볼 수 있는 세션을 마련했으며, “텍스트로닉스의 오실로스코프 기술과 NI PXI 플랫폼의 통합”을 주제로 한국텍트로닉스 담당자가 직접 세션을 맡아 발표할 예정이다. 뿐만 아니라 한국내쇼날인스트루먼트에서 반도체, RF 등 자동화 테스트를 전담하는 최고의 엔지니어들이 총출동하여 세미나를 진행한다. 또한 현 한국 비파괴학회 학술분과 위원이자 IRWAVE의 주훈 대표가 특별 연사로 초청되어, 최근 이슈화가 되고 있는 열화상을 이용한 비파괴 전자 부품 성능 검사법을 소개할 예정이다. 이 외에도 NFC 무선 프로토콜 테스트 세션과 모바일 칩셋 테스트를 위한 최신 기술 발표 역시 눈 여겨 볼만 하다.

한국NI, 자동화 테스트 컨퍼런스 개최

기사입력 2011-05-23 00:09:57

[산업일보]

한국내쇼날인스트루먼트는 6월 1일 서울 코엑스에서 “최신 반도체 개발 및 양산을 위한 통합 테스트 시스템 개발”을 주제로 반도체 개발 및 테스트 엔지니어를 위한 컨퍼런스를 개최한다.

‘PXI 자동화 테스트 컨퍼런스’는 지난 40년 간 자동화 테스트 분야의 선두 기업으로 자리매김 해 온 내쇼날인스트루먼트가 해당 분야의 최신 기술 트렌드를 제시하고 고객과 상호 네크워킹하기 위한 취지로 준비하여 앞으로 매년 개최될 예정이다.

올 해 첫 해를 맞는 2011년 컨퍼런스에서는 반도체 기능의 다양화로 인한 테스트 항목 및 비용 절감 문제 등 반도체 개발 및 테스트 엔지니어가 당면한 현안을 짚어보고, 반도체 개발 및 양산 단계에서 진행해야 할 다양한 테스트 항목과 반도체 통합 자동화 테스트를 위한 PXI기반의 자동화 테스트 시스템 개발 기법을 소개한다.

특히, 지난 4월 내쇼날인스트루먼트와 텍트로닉스가 공동 개발한 PXI 디지타이저 신제품을 소개하고 현장에서 데모를 통해 확인해 볼 수 있는 세션을 마련했으며, “텍스트로닉스의 오실로스코프 기술과 NI PXI 플랫폼의 통합”을 주제로 한국텍트로닉스 담당자가 직접 세션을 맡아 발표할 예정이다. 뿐만 아니라 한국내쇼날인스트루먼트에서 반도체, RF 등 자동화 테스트를 전담하는 최고의 엔지니어들이 총출동하여 세미나를 진행한다.

또한 현 한국 비파괴학회 학술분과 위원이자 IRWAVE의 주훈 대표가 특별 연사로 초청되어, 최근 이슈화가 되고 있는 열화상을 이용한 비파괴 전자 부품 성능 검사법을 소개할 예정이다. 이 외에도 NFC 무선 프로토콜 테스트 세션과 모바일 칩셋 테스트를 위한 최신 기술 발표 역시 눈 여겨 볼만 하다.

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이순재 기자 soon8309@daara.co.kr

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