키슬리, 반도체 디바이스 특성 분석용 솔루션 개발 전자 측정 장비 솔루션 개발업체인 키슬리 인스트루먼츠 코리아(대표 양웅모)가 반도체 특성 분석 시스템(모델명 4200-SCS)을 위한 펄스 측정 솔루션을 새롭게 선보였다. 키슬리의 모델 4200-SCS 시스템의 옵션 품목인 PIV(Pulse-I-V) 패키지는 펄스 발생기, 펄스 측정, 특허 출원중인 소프트웨어를 완벽하게 결합하고 피측정물(DUT)과의 배선을 단순화시킨 것이 특징이다.키슬리는 4200-SCS PIV 패키지는 측정 성능이 뛰어나고, 강유전체 집적 시 발생되는 전하 트래핑을 비롯해 65nm 이하의 기술 노드가 적용되는 최첨단 디바이스의 발열 문제를 해결해 줄 것이라고 말했다.미디어다아라 이경옥 기자(withok2@daara.co.kr)

키슬리, 반도체 디바이스 특성 분석용 솔루션 개발

기사입력 2005-08-11 13:27:00

[산업일보]
전자 측정 장비 솔루션 개발업체인 키슬리 인스트루먼츠 코리아(대표 양웅모)가 반도체 특성 분석 시스템(모델명 4200-SCS)을 위한 펄스 측정 솔루션을 새롭게 선보였다.

키슬리의 모델 4200-SCS 시스템의 옵션 품목인 PIV(Pulse-I-V) 패키지는 펄스 발생기, 펄스 측정, 특허 출원중인 소프트웨어를 완벽하게 결합하고 피측정물(DUT)과의 배선을 단순화시킨 것이 특징이다.

키슬리는 4200-SCS PIV 패키지는 측정 성능이 뛰어나고, 강유전체 집적 시 발생되는 전하 트래핑을 비롯해 65nm 이하의 기술 노드가 적용되는 최첨단 디바이스의 발열 문제를 해결해 줄 것이라고 말했다.

미디어다아라 이경옥 기자(withok2@daara.co.kr)

키슬리, 반도체 디바이스 특성 분석용 솔루션 개발

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