키슬리, 4200-SCS용 C-V 측정 장비 개발

[산업일보]
계측 솔루션 업체인 키슬리 인스트루먼츠(Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), 지사장 양웅모)는 자사의 모델 4200-SCS 반도체 특성분석 시스템을 위한 새로운 C-V(커패시턴스-전압) 측정 장비를 개발했다고 19일 밝혔다.

모델 4200-CVU 장비는 모델 4200-SCS의 슬롯에 삽입되는 모듈 형태로 제공되며, 10kHz ~ 10MHz의 주파수 범위에서 fF(femtoFarads)에서 nF(nanoFarads)까지 쉽고 빠르게 커패시턴스를 측정할 수 있도록 했다.

최신형 고성능 회로를 이용해 개발된 모델 4200-CVU는 현재 8개 특허기술을 출원 중이다.

4200-CVU의 설계는 직관적인 포인트앤클릭(point-and-click) 셋업, 단순한 케이블링 및 빌트인 엘리먼트 모델들을 제공해 사용자들이 추측없이 정확한 C-V 측정 결과를 얻을 수 있도록 했다.

또한 손쉬운 인터페이스의 구현으로 초보에서부터 숙련자까지 모든 사용자들이 전문가들처럼 C-V 테스트를 수행할 수 있도록 한 점도 눈에 띈다.

키슬리측은 모델 4200-CVU가 업계에서 가장 광범위한 테스트 라이브러리 세트를 포함하고 있어 테스트 효율을 대폭 향상시킬 수 있다고 전하며, 키슬리의 모델 4200-LS-LC-12와 매칭시 더 높은 효율을 얻을 수 있다고 밝혔다.

다른 특성화 시스템과는 달리 키슬리 C-V/I-V 분석 및 추출 프로그램은 문서화가 잘 된 개방 환경에서 동작함으로써 사용자들의 수정 작업을 쉽게하고, 사용자 지정 루틴을 맞춤화 할 수 있다.

I-V/C-V/펄스를 테스트 하는 것 외에도 4200-SCS는 8개의 중/고전력 DC 소스측정장비(SMU), 듀얼 채널 펄스 및 파형 발생기 및 통합 디지털 오실로스코프 등을 옵션으로 선택할 수 있다.

상세 정보는 http://www.keithley.com/pr/078 에서 확인할 수 있다.