한국NI, 테스트를 위한 200 MHz 계측기와 섀시 출시

[산업일보]
내쇼날인스트루먼트는 고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한 32-채널 PXI Express 기반 디지털 계측기와 8-슬롯 고대역폭 PXI Express 3U 섀시를 발표했다.

NI PXIe-6544/45 전압 선택가능 디지털 파형 생성기/분석기는 각각 최고 100 및 200 MHz의 클럭 속도를 제공하여 테스트 어플리케이션을 최적화함으로써 업계에서 가장 빠른 스트리밍 디지털 테스트 제품 중 하나이다.



새로 출시된 디지털 계측기는 호스트 메모리에/로부터 대량의 데이터를 신속히 전송하는 고속 반도체 디바이스와 HD(High-Definition) 멀티미디어 구성요소의 정교한 분석을 수행한다.

또한 NI PXIe-1082 섀시는 7개의 PXI Express 주변 슬롯을 갖춘 업계 최초의 3U 8-슬롯 PXI Express 섀시로서 슬롯당 최고 1 GB/s와 최고 4 GB/s의 전체 시스템 대역폭으로 생성기/분석기를 보완한다.

NI PXIe-6544/45 모듈의 고급 연산을 이용하면 아날로그-디지털 컨버터 (ADC), 디지털-아날로그 컨버터 (DAC), 메모리 디바이스, ASIC 그리고 마이크로컨트롤러와 같이 보다 빠른 반도체 디바이스를 정확하게 자동화 시켜 테스트할 수 있다.

NI PXIe-6544/45 모듈은 온보드 DDS(Direct Digital Synthesis) 클럭과 같은 강화된 타이밍과 동기화 기능을 포함하고 있어 DC에서 200 MHz에 이르는 서브헤르츠 해상도를 제공한다.

이로써 외부 클럭을 사용하지 않으면서 추가적인 고해상도 클럭킹 디바이스와 외부 타이밍 케이블 없이도 고해상도로 데이터 생성과 수집을 클럭킹할 수 있다. 또한 DDS는 임의 클럭 주파수가 필요한 테스트 어플리케이션을 관리하도록 돕는다.

엔지니어들은 온보드 클럭을 기타 계측기에 반출하거나 NI PXIe-1082 섀시의 백플레인이나 생성기/분석기 전면부의 SMB 커넥터를 통해 외부 클럭을 반입할 수 있다.

이 같은 기능을 이용하면 NI PXIe-6544/45 모듈을 기타 아날로그 또는 디지털 계측기와 신속히 동기화하여 디바이스 전반에 생성된 신호와 측정의 최대 연동이 가능하다.

NI PXIe-1082 8-슬롯 고대역폭 3U 섀시는 모든 슬롯에 연결되는 PCI Express 레인이 눈에 띄는 특징으로, 이 섀시는 PXI Express나 PXI 하이브리드-슬롯-호환 모듈을 사용하여 기존 PXI 모듈을 최대한 재사용할 수 있다.

고성능 시스템을 위해 제작된 NI PXIe-1082 섀시는 섭씨 0~50도의 작동 온도 범위를 제공하며 전력 관리, 팬 상태 및 온도 모니터링을 포함한 통합된 시스템 모니터링 기능을 모든 섀시에 제공한다.


김영복 기자 asura@kidd.co.kr