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베리지, 신규 HSM3G 고속메모리 솔루션 발표
윤공석 기자|news@kidd.co.kr
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베리지, 신규 HSM3G 고속메모리 솔루션 발표

업그레이드로 향후 3세대 디바이스까지 확장 가능

기사입력 2010-07-28 07:04:22
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베리지, 신규 HSM3G 고속메모리 솔루션 발표
▲ V93K HSM Arrow

[산업일보]
베리지 코리아(대표 지은화)는 27일 메인스트림 메모리 IC DDR3 세대 및 그 이후 세대를 위한 V93000 HSM 플랫폼의 테스트 능력을 더욱 확장한 신규 HSM3G 고속 메모리 테스트 솔루션을 발표했다.

V93000 HSM3G는 차세대 디바이스 적용을 위한 업그레이드 기능을 제공, 최대 6.8Gbps의 데이터 전송률과 함께 향후 3세대 DDR 메모리까지 저렴한 비용으로 테스트를 할 수 있도록 함으로써 장기적인 테스트 경제성이 매우 뛰어난 것이 특징이다.

베리지의 한스-위르겐 바그너(Hans-Juergen Wagner) SOC 테스트 솔루션 부사장은 “메모리 제조업체들은, 생산성 및 기능성 요건을 충족함과 동시에 단일 디바이스 세대를 넘어서 긴 장비 수명과 투자 보호를 제공할 수 있는 경제적인 ATE 솔루션을 추구하고 있다”며, “베리지의 확장형 V93000 HSM 테스트 플랫폼은 전례 없는 장비 수명을 달성함으로써 DDR3 및 DDR4를 비롯해 차세대 DRAM 메모리까지, 최소한 3세대를 아우르는, 디바이스에 대한 높은 투자 수익률을 제공한다. 이러한 테스트 경제성은 업계 어디에서도 찾아보기 힘들다”고 말했다.

베리지, 신규 HSM3G 고속메모리 솔루션 발표
▲ HSM6800-3G-4000 Card

V93000 HSM3G는 속도 및 기능성 면에서 향후 계속 이용이 가능하며, 고속 메모리 테스트 시장에서 가장 완벽한 성능을 보여주고 있다.

또한 DBI(data bus inversion) 및 CRC(cyclic redundancy check) 데이터 생성을 지원하는 프로그래밍 기능의 앳스피드 APG 퍼 핀(At-speed APG(algorithmic pattern generator) per-pin)을 통해 최신 DDR4 메모리 기술 기능 테스트가 가능해 높은 테스트 품질과 수율을 보장한다.

V93000 HSM3G는 메모리 ATE 핀당 처리량을 통해 최대 20%까지 테스트 시간을 절약할 수 있다. 또한 전 병렬 패턴 실행, 전 병렬 DC 테스트 및 eye-width측정을 제공함으로써 고도의 멀티 사이트 효율성을 달성한다.

V93000 HSM3G는 정확성, 기능성, 테스트 커버리지 및 수율 성능을 그대로 유지하면서 테스트 타임 오버헤드 없이 2.9Gbps의 데이터 속도를 제공하는 것은 물론, 전체 속도 범위에서 256 사이트 DDR3를 병렬 테스트 할 수 있다.

HSM3G는 스피드 헤드룸을 통해(또는 높은 데이터 속도를 제공함으로써) 모든 주요 DDR3 속도 스펙(스피드 빈)을 비롯해 하이엔드급 게임용 DDR3 및 DDR4의 상위 2개 속도 등급을 처리할 수 있다. V93000 플랫폼 아키텍처는 앞으로 개발될 더 높은 속도의 디바이스도 적용할 수 있도록 업그레이드가 가능하다.



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