[산업일보]
MCIS(Micro Component Inspection System) 시리즈는 MLCC, 배리스터(Varistor) 등과 같은 초 박막적층 전자소자용 검사 장비이다. 소형전자 부품의 외관상 결함을 분석해 자동으로 양품과 불량을 선별함으로써 최종 출하되는 제품의 품질을 높인다.
특히 MCIS-Pro 장비의 경우, 분당 4,500개 이상으로 고속검사가 가능하다는 것이 특징이다. 이는 기존에 출시된 외관 검사장비에 비해 2배 이상의 빠른 검사 속도를 자랑한다.
문의 : 031-746-8400
[미디어다아라]