NMI, CMOS 변이 관련 국제 컨퍼런스 개최

[산업일보]
영국 및 아일랜드의 반도체 산업을 대표하는 무역협회인 NMI(National Microelectronics Institute)는 영국의 nanoCMOS 프로젝트와의 협력으로, CMOS 변이(variability)에 대한 유럽 최초의 국제 컨퍼런스를 개최한다고 밝혔다.

이 컨퍼런스는 10월 23일 영국 런던의 Royal College of Physicians에서 열릴 예정이다.

주최측은‘Design for variability’라는 주제 하에 열리는 이번 컨퍼런스가 완전한 반도체 공급 체인을 가지고 핵심 연구개발을 이끌고 있는 업계의 선도업체들이 한데 모여 반도체 설계에서의 변이와 관련한 밀접한 관계를 분석하고 업체들간의 협력을 도모하는 자리라고 말했다.

NMI의 데렉 보이드(Derek Boyd) CEO는 "CMOS 변이가 뒤로는 설계 체인, 앞으로는 애플리케이션으로 확대되고 있음에 따라 이의 영향은 업계 전반에서 인식될 것이다. 칩 설계자들은 이러한 변이가 시스템 설계에 어떻게 영향을 미치는지에 대해 바로 이해할 필요가 있으며, 규모를 떠나 모든 기업들, 특히 SME는 앞으로 이러한 이슈에 대해 어떻게 대처할지를 생각하고 미래에 대비해야 한다"고 말했다.

그는 또, "변이 문제는 더 이상 IDM이나 관련 전문가들에게 국한된 것이 아니다. 현재 업계가 직면하고 있는 실제 어려움에 대한 인식을 제고하고, 이에 대한 해법을 찾기 위해 업계에서의 협력을 장려해야 할 것"이라고 말했다.

컨퍼런스의 기조 연설을 맡은 글래스고 대학의 nanoCMOS 프로젝트 책임자인 아센 아세노프(Asen Asenov) 박사는 "65nm 기술은 비교적 작업이 쉽지만, 45nm 이하로 가면 많은 변화가 발생돼 디지털 회로의 수율, 안정성 및 전력소비에 영향을 미친다. 일례로, SRAM에서 최초로 이러한 잠재적 문제가 있는 것으로 나타났으며, 이는 SoC 및 기타 제품에 심각한 영향을 미칠 것"이라고 말했다.

그는 이어, "간단히 말하자면, 설계자들은 어떻게 하면 신뢰할 수 없는 기술을 가지고 신뢰할 수 있는 시스템을 설계할 수 있는지를 알아야 한다. 또, 설계 마진이 계속해서 감소함에 따라 툴 업체들은 결정론적인 것보다는 좀 더 통계학적인 접근 방식으로 전환할 필요가 있다. 파운드리 업체들은 단순히 공정기술(design rule)을 제공하는 것에 그치는 것이 아니라 설계 모델을 제시할 수 있도록 변화할 필요가 있다. 변이는 매우 중요한 이슈로, 다각적인 측면에서 다뤄져야 하며, 이번 컨퍼런스가 바로 이를 위한 것"이라고 덧붙였다.