NI, NI PXI 디지타이저 및 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit 발표 8비트 제품 수직 분해능보다 4배 높은 고속 측정 제공 내쇼날인스트루먼트(이하 NI)는 NI PXIe-5162 디지타이저와 업데이트된 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 출시한다고 발표했다. 디지타이저는 10비트의 수직 분해능과 5GS/s 샘플속도를 갖추고 있으며 기존 8비트 오실로스코프의 수직 분해능보다 4배 높은 고속 측정을 제공한다. PXIe-5162는 한 슬롯에 1.5GHz의 대역폭과 4개 채널을 제공하므로 제조 테스트, 연구 및 디바이스 특성화용 다채널 디지타이저 시스템에 적합하다. 엔지니어들은 디지타이저와 함께 LabVIEW 및 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit(높은 전송률의 지터, 아이 다이어그램 및 자동화 검증 및 생산 테스트 환경이 요구하는 위상 노이즈 측정을 수행하는데 최적화된 함수 라이브러리 제공)을 이용할 수 있다.NI 모듈형 계측기 R&D 담당자인 Steve Warntjes는 “NI PXIe-5162 디지타이저는 고속의 다채널과 고분해능 측정을 제공하기 때문에 기존 박스형 오실로스코프를 이용한 자동화 테스트 이상의 가치를 제공한다. 고속 디지타이저와 함께 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 이용하면 박스형 오실로스코프에 탑재된 구형 임베디드 프로세서가 아닌 현대식 PC의 처리력을 이용해 측정 시스템의 속도를 가속화할 수 있다”라고 전했다.

NI, NI PXI 디지타이저 및 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit 발표

8비트 제품 수직 분해능보다 4배 높은 고속 측정 제공

기사입력 2013-07-22 17:32:02

[산업일보]
내쇼날인스트루먼트(이하 NI)는 NI PXIe-5162 디지타이저와 업데이트된 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 출시한다고 발표했다.

디지타이저는 10비트의 수직 분해능과 5GS/s 샘플속도를 갖추고 있으며 기존 8비트 오실로스코프의 수직 분해능보다 4배 높은 고속 측정을 제공한다. PXIe-5162는 한 슬롯에 1.5GHz의 대역폭과 4개 채널을 제공하므로 제조 테스트, 연구 및 디바이스 특성화용 다채널 디지타이저 시스템에 적합하다.

엔지니어들은 디지타이저와 함께 LabVIEW 및 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit(높은 전송률의 지터, 아이 다이어그램 및 자동화 검증 및 생산 테스트 환경이 요구하는 위상 노이즈 측정을 수행하는데 최적화된 함수 라이브러리 제공)을 이용할 수 있다.

NI 모듈형 계측기 R&D 담당자인 Steve Warntjes는 “NI PXIe-5162 디지타이저는 고속의 다채널과 고분해능 측정을 제공하기 때문에 기존 박스형 오실로스코프를 이용한 자동화 테스트 이상의 가치를 제공한다. 고속 디지타이저와 함께 LabVIEW Jitter Analysis Toolkit을 이용하면 박스형 오실로스코프에 탑재된 구형 임베디드 프로세서가 아닌 현대식 PC의 처리력을 이용해 측정 시스템의 속도를 가속화할 수 있다”라고 전했다.