KRISS, 'NEWRAD 2008' 국제학술대회 개최

[산업일보]
KRISS(한국표준과학연구원, 원장 정광화)가 10월 13일(월)부터 17일(금)까지 대전컨벤션센터에서 세계 광학 측정분야의 새로운 발전과 응용을 위한 2008 NEWRAD(New Developments and Applications in Optical Radiometry, 뉴라드) 학술대회를 개최한다.

이번 학회에는 미국, 일본, 영국, 독일, 체코, 핀란드, 싱가포르 등 21개국 200 여 명의 광학 측정분야 전문가들이 참석한다.

이번 학회에서는 복사량 절대측정, 자외선·가시광·적외선 측정, 복사측정 국제표준, 리소그라피 및 자외선 공정, 원격 센서, 광측정 및 색채측정, 복사온도 측정, 광학 측정 신기술 등 9개 주제로 총 151편에 이르는 국내외 연구현황 및 성과에 대한 발표가 이루어진다.

주요 발표 내용으로는 ▶KRISS 이인원 박사의 ’디스플레이 산업의 측정‘ ▶미국 오스람사 다우바흐 박사의 ‘LED 및 반도체 조명 기술과 측정'' ▶독일 국가표준기관(PTB) 빈터 박사의 ’태양전지 측정‘ ▶영국 국가표준기관(NPL) 폭스 박사의 ‘위성 측정에서의 단위계 실현’ ▶미국 국가표준기관(NIST) 스티븐 박사의 ‘하이퍼스펙트럴 카메라의 평가’ ▶독일 항공우주센터 휘브너 박사의 ‘테라헤르츠 응용 및 측정’ ▶일본 동경기술원 야마구치 박사의 ‘의학용 분광이미징 기술’ 등이다.

KRISS 기반표준본부 박승남 본부장은 “그동안 NEWRAD 학술대회는 미국, 영국, 독일 등에서만 열렸고 아시아에서는 한국이 최초로 유치해 개최한 행사”라며 “한국이 광량, 복사량, 색채 등 광학 측정분야에서 그동안 수행해 온 국제 활동 및 측정기술의 우수성이 인정된 결과”라고 말했다.

올해로 10회를 맞이한 NEWRAD 학술대회는 1985년 미국에서 시작된 전문가 회의가 학회로 발전한 것으로 세계 광학 측정분야의 발전을 위해 노력하고 있다.

또한 이번 NEWRAD 학술대회 중에는 국제도량형위원회(CIPM) 광도복사도 자문위원회(CCPR) 실무단 회의가 함께 열릴 예정이다. 실무단 회의에서는 세계 15 여개 국가의 대표가 모여 5년마다 실시하는 광측정 및 복사측정 분야 6개 핵심 국제비교에 대한 주관기관 선정 및 참여국 선발 등을 논의한다.




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